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通用计算机控制非线性超声测试系统RAM-5000 SNAP

通用计算机控制非线性超声测试系统RAM-5000 SNAP

型号:RAM-5000 SNAP
原价:0 优惠价:0
产地:美国Ritec

主要特点
RITEC SNAP是世界上第一套专门用于材料无损评估时的非线性效应研究的超声测试系统,是进行常规超声衰减和波速测试的绝佳工具
详细介绍

   通用计算机控制非线性超声测试系统RAM-5000 SNAP

 最近,在材料无损评价中,非线性超声的衰减特性已经受到密切注意。大振幅超声波在材料中传播时产生的一些非线性效应,是由主频产生的二次(或高次)谐波,以及驱动振幅对接受到信号的振幅的非线性相关性引起的。

测试非线性效应能够获取材料的多种特性,如疲劳、微裂纹、粘合剂的粘结强度、薄膜涂层的特性等。其灵敏度远远高于超声衰减和波速测试等传统的线性方法。实际上,很多信息只能通过非线性测试才能得到。但是,在过去进行这些测试非常困难,原因一是这种方法固有的特殊性,二是缺乏相应的仪器。非线性效应产生的信号常常比线性信号小几个数量级,很容易被噪声所掩盖。非线性测试需要在试样中激发振幅很大的信号。

RITEC SNAP是世界上第一套专门用于材料无损评估时的非线性效应研究的超声测试系统,堪称世界一流。同时,它还具备RAM-5000的所有特点:

l         模块化设计,用户可按照实际测试要求灵活配置

l         高能射频(RF)脉冲输出,频率为7MHz时,功率可达5kW

l         三个标准频率范围覆盖50KHz-40MHz

l         可按照用户要求定制频率范围

l         采用高级信号处理技术,可精确测定信号振幅与相位

l         相敏超外差接收器能从噪声中获取其它方法无法探测到的信号

是进行常规超声衰减和波速测试的绝佳工具,特别是当需要使用电磁声传感器(EMAT)和空气耦合传感器时,SNAP更可以大显身手。

与其它超声系统相比,具备以下特殊性能

l         在复合材料和其它困难材料中,能激发非常短(短至一个循环)的RF脉冲,进行可重复的测试

l         能激发功率高达5kW的高能RF声脉冲群,从而能驱动效率较低的传感器

l         模块化设计(用户可按照自己特定的试验要求灵活配置)。电源机架可连接5个门控放大器模块,用户可配置2个或多个放大器获得更宽的频率范围

l         卓越的信号处理技术,可精确测定RF脉冲信号的振幅与相位。相位角测试可在0.03 °范围内重复进行,振幅测试可在0.01dB内重复进行。例如,用一只10MHz传感器测试某试样的声时为5μs,分辨率可高达4ps百亿分之一秒)

在大多数RITEC系统中,均设置了一套高质量、快速转换的连续波(CW)合成频率源来生成发射信号及处理接收信号。这种方法能同时测试相位角和振幅,还使得系统的线性能根本上独立于信号水平。

 

 

通用计算机控制非线性超声测试系统RAM-5000 SNAP


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