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X-3000型X射线荧光光谱仪:X-3000型

厂商:北京瀚时制作所
型号:X-3000型
归类:X射线仪
原价:288000 促销价:280000
发布日期:2008-09-08 浏览次数:...
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X-3000型X射线荧光光谱仪 产品简介

X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方, 正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。 整机技术规格:1 激发源:本机采用低功率 X 射线管(Mo靶),最高电压可达50KV,最大电流1mA2.高压电源:最大50W,50KV,1mA3.探测器:电制冷 Si PIN半导体探测器(对MnKa线,分辨率优于230KeV)4.多道分析器:2048道5.软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法, 理论a系数法和基本参数法。 定性分析包括: KL线标记, 谱图比较和光标寻峰等 。 客户可进行二次开发 ,自行开发任意多个分析方法。6.电源:交流220V 50Hz7.体积:520mm x 600mm x 270mm8.重量:约 42kg (主机) 整机技术性能:1.测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量2.可测量含量范围,从ppm至100%3.测量速度快,通常为几十秒到几分钟4.多元素同时定性定量5.蜂位漂移:八小时小于0.1% 进口探测器的性能指标1.探测器类型:电制冷Si-PIN2.探测面积:2.4x2.8mm(7mm2)3.硅活化区厚度:300um4.能量分辨率: 对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为220Ev5.探测器窗口:铍窗,25um厚 进口高压电源规格:1.电压和电流从零至满量程连续可调,最大50KV,1mA.2.电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %,线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01%3.电流调整率: 负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01% 线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%4. 稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%5.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

X-3000型X射线荧光光谱仪 详细介绍

X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方, 正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。

 

整机技术规格:

1  激发源:本机采用低功率 X 射线管(Mo靶),最高电压可达50KV,最大电流1mA

2.高压电源:最大50W50KV1mA

3.探测器:电制冷  Si PIN半导体探测器(对MnKa线,分辨率优于230KeV

4.多道分析器:2048

5.软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法, 理论a系数法和基本参数法。 定性分析包括: KL线标记, 谱图比较和光标寻峰等 客户可进行二次开发 ,自行开发任意多个分析方法。

6.电源:交流220V  50Hz

7.体积:520mm  x  600mm  x  270mm

8.重量:约 42kg  (主机)

 

整机技术性能:

1.测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量

2.可测量含量范围,从ppm100%

3.测量速度快,通常为几十秒到几分钟

4.多元素同时定性定量

5.蜂位漂移:八小时小于0.1%

 

进口探测器的性能指标

1.探测器类型:电制冷Si-PIN

2.探测面积:2.4x2.8mm7mm2

3.硅活化区厚度:300um

4.能量分辨率: 对于55Fe@5.9keV  对于12us的形成时间,半高宽为220Ev

5.探测器窗口:铍窗,25um

 

进口高压电源规格:

1.电压和电流从零至满量程连续可调,最大50KV1mA.

2.电压调整率:

负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 %

线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为

满量程的0.01%

3.电流调整率:

   负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%

   线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01%

4 稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%

5.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%

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