首页 > 仪器商城 >其它行业专用仪器 > 工业分析仪 > X射线荧光镀层测厚仪

X射线荧光镀层测厚仪

厂商:现代材料与化工分析公司
型号:
归类:其它行业专用仪器
原价:1 促销价:0
发布日期:2008-09-08 浏览次数:...
询价留言 X射线荧光镀层测厚仪 参观展台

X射线荧光镀层测厚仪 产品简介

MicronX 可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从埃至微米,他也能测量多至20个元素的块状合金成分。

X射线荧光镀层测厚仪 详细介绍

MicronX 利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于微电子学、光通讯和数据贮存工业的金属薄膜测量。
其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX能最佳地解决你的应用。结果是ASIM(应用专用仪器测量)在准确度、精密度、和重现性上具有独一无二的性能。
ZXR/LXR:用于小样品的经济型
VXR:真空测量环境,增加灵敏度和测定范围
GXR:斑点小,样品量大
MXR:高性能,精密,分辨

客户留言

产品更新列表 | 厂商更新列表 | 资讯更新列表 | 下载更新列表 | 资料更新列表 | 产品目录
关于我们 | 服务项目 | 网站地图 | 投诉建议 | 免费会员注册 | 友情链接
商务合作:QQ81399979 | QQ客服:2621396305 | 仪器商家QQ群42822246 | 服务热线15958920359 | 电子邮箱:liuhua579@163.com
Copyright © 2007-2015 中国仪器之家版权所有 | 浙ICP备09080476号