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台式偏振X射线荧光光谱仪:SPECTRO XEPOS

厂商:深圳市云帆兴烨科技有限公司
型号:SPECTRO XEPOS
归类:环境检测专用仪器
原价:0 促销价:0
发布日期:2008-09-08 浏览次数:...
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台式偏振X射线荧光光谱仪 产品简介

多功能偏振型台式X射线荧光光谱仪,更高得检测下限更精确得检测结果更方便得操作

台式偏振X射线荧光光谱仪 详细介绍

 

型號

德国斯派克Spectro XEPOS

图片

 

产地

 

德国

测试元素

 

分析的范围为元素周期表中钠到铀的元素(除惰性气体)。并优化CdPbHgCrBr

使用介绍

 

将待测试的样品放入样品盒中,一共有12个样品杯进行顺序测试, 200-600秒内(无须任何人为干预), 即可测出结果, 可直接打印报告.

分析精度

LOD(檢出下限,300秒,PE材料)

(Pb)0.7 ppm                                                    (Cd)1.8 ppm

(Hg)0.8 ppm

(Cr)2.0ppm                                                    (Br)1 ppm

符合欧洲WEEE标准RoHs指令及SONY STM-0083

光学系统

X射线管

 

仪器采用的方式于世界上最强的X射线发生源-同步加速器所采用的光源机制相似,X光极为纯净,减少了杂散光对分析结果的影响。设计寿命5万小时。

 

 

偏振光技术    Polarizing technology

区别于其他X射线荧光仪,斯派克XEPOS采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术, X光方向性特别强,仪器的背景最低, 信噪比最佳, 检出限最低,达到极佳的测试精度

次级靶技术    Secondary Targets

次级靶技术比滤波片具有更低的背景噪声,更佳的测试灵敏度。采用多靶转换技术, 对不同的分析元素采用不同的次级靶, 保证对元素周期表中Na – U的所有元素均有最佳的激发效果。其中仪器所采用的晶体靶, 由于X射线衍射的原因, 其激发强度不仅不会下降, 反而会产生单色平行X光束, 大大提高激发元素的效率。

 

光闸shutter

光管最忌频繁的开关,光闸的设计理念使光管不必频繁的开关,延长了使用寿命

探测系统

偵測器detector

矽半導體偵測器 ,分辨率好于160eV不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比变差的情况。

                              Silicon Drift Detector

计数率

120,000cps可有效防止计数溢出。

自动进样器             auto sampler

12位自动进样器,进样器提高测试速度,避免使用者频繁的进样取样动作。减少了手动放样的位置误差,保证光管无需频繁变换电压,从而提高了光管的寿命

进样系统

样品位置自动校正

YES

软件

厚度補正功能

YES

材質補正功能

YES

濾波器

无滤波片,采用更加先进的偏振技术,由于偏振X射线本身所具有的偏振性及单色性, 因此仪器无需选择滤光片。避免了烦杂的滤光片的选择, 简化分析操作, 减少了X光的损失, 节约了分析时间。可实现真正意义上的Na-U的全分析。

標準样品          Standard Sample

内置百余种不同材质的标准样品

软件功能

仪器配置快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比,更为接近(符合)实际,在此程序中采用了百余种国际标准样品,实测结果并予以固化。界面采用人机功效学原理,谱图汇编,自动识别。定性、定量功能强大。机器自我诊断系统,仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。

測試時間

6分钟

防辐射

符合德国X射线安全使用标准

其他

智能UPS

有程控软件,无人值守情况下,最大限度的保护仪器

 耗材

无需液氮,只有测试液体并且不易清洗的时候需要测试样品杯

外观

690mm600mm320mm

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